Guido Scavia

Il suo interesse è principalmente rivolto verso l’utilizzo di Microscopie a scansione di sonda per lo studio di film sottili polimerici semiconduttori per optoelettronica e sensoristica, dal punto di vista morfologico ed elettronico locale. Inoltre si occupa di deposizione di strati sottili attraverso tecniche tradizionali (Spin coating) e tecniche alternative quali microcontact printing. Collabora con un gruppo CNR presso il sincrotrone trieste per la caratterizzazione strutturale dei film sottili polimerici tramite diffrazione a raggiX.

1983: laurea in Chimica Industriale presso l’Università degli studi di Torino (110/110lode).
1984-86: Borsa di studio su Drug design presso CNR Chimica fine e secondaria Roma.
1986-2006: ricercatore presso CNR ICMAT(ora ISMN) e successivamente ISM Roma. Dopo stages presso l’Università di Oxford e Marsiglia Luminy su sistemi Scanning tunneling microscopy in ultraaltovuoto (STM-UHV), si occupa presso CNR-Roma dell’utilizzo di un sistema STM-UHV per lo studio di deposizioni UHV di film organici ed inorganici su superfici di semiconduttori III-V e silicio per applicazioni in optoelettronica.
2007-2020: presso CNR ISMAC (ora SCITEC) di Milano, la sua attività principale consiste nell’utilizzo di Microscopie a scansione di sonda (AFM,Kelvin Probe,AFM conduttivo)per studi di film sottili polimerici semiconduttori per optoelettronica e sensoristica.